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  菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

  菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希爾臺式測厚儀，F(xiàn)ISCHER代理，菲希爾鍍層測厚儀

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  XDAL237 X射線熒光測厚儀

  XDAL237 X射線熒光測厚儀 憑借電機驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向，XDL系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設計上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應。

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  xan500fischer德國*

  xan500fischer德國* 手持式、臺式、在線： XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設備。它既可以作為手持式設備使用，也可以作為封閉式的臺式機或是直接整合到生產(chǎn)線中。

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  便攜式x射線測厚儀*

  便攜式x射線測厚儀* XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設備。它既可以作為手持式設備使用，也可以作為封閉式的臺式機或是直接整合到生產(chǎn)線中。在配備了平板電腦后，XAN500同樣采用久經(jīng)考驗的WinFTM軟件?；诨緟?shù)法的WinFTM軟件不僅能進行材料分析，還能測量鍍層厚度，并可實現(xiàn)無校準（不需標準片）測量。

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  菲希爾代理測厚儀XDL210

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  FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾

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  德國Fischer x射線測厚儀 XULM 240代理

  德國Fischer x射線測厚儀 XULM 240代理 XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為Ø0.25mm的準直器測量，20秒的重復精度可達2.5nm。

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  菲希爾X射線測厚儀XDL230

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  Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測厚儀

  Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測厚儀 但是，如果合金中很多元素要測量或存在光譜重疊情況，那么配備半導體探測器的儀器，如XAN120，應該更加適合。由于具備非常好的分辨率，它也可以用來區(qū)分例如在牙合金中非常關鍵的金和鉑以及融合的貴金屬合金。

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  菲希爾XULM240

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  菲希爾鍍層測厚儀XDL230

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  菲希爾X射線測厚儀

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